金年会2019年10月23-25日，“2019年电子产品可靠性与质量管理学术年会”在中国厦门天鹅大酒店隆重召开金年会。本次会议由四川省电子学会电子产品可靠性与质量管理专业委员会主办，中国工程物理研究院电子工程研究所和厦门大学航空航天学院联合承办，成都国光电气股份有限公司协办，《太赫兹与电子信息学报》为支持媒体。
本次会议由专委会秘书长、中国工程物理研究院电子工程研究所副研究员锁斌主持。大会主席杨战平研究员代表主办单位和承办单位发表了热情洋溢的开幕词，他表示欢迎各位参会代表对大会的支持和鼓励金年会，希望大家充分交流科学思想，探讨技术发展趋势，分享科学研究成果，集思广益学术观点，共同提高学术水平。
工信部电子五所杨少华博士、九洲电器股份有限公司可靠性副总师王武高工、中国核动力研究设计院主任青先国研究员、厦门大学张保强博士、西南科技大学刘东副教授、电子科技大学闫理跃博士以及中国工程物理研究院电子工程研究所锁斌副研究员、胡斌副研究员等8位专家受邀做了大会专题报告。这些专题报告既有前沿的理论研究成果，又有典型的可靠性工程应用实例，引发了现场的热烈讨论。
会议从投稿中优选出的13篇论文进行了现场交流。大会组成了评审组，评选出优秀论文一等奖1篇、优秀论文二等奖2篇、优秀论文三等奖3篇。大会主席杨战平研究员揭晓了获奖名单，并与众评委一起为获奖者颁奖。
最后，大会主席杨战平研究员进行了总结发言，提炼出了本次会议的两个“最”：气氛最活跃、交流最充分。他指出，此次会议为各位参会代表提供了一个高水平的交流平台和合作空间，会议期间各位专家思想碰撞激烈，积极讨论可靠性设计金年会、分析、试验、评估等相关技术的工程应用，一定程度上推动了可靠性技术的应用发展。
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